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產品中心導熱儀LZT-導熱/塞貝克聯測儀LZT-Meter (LZT L33)導熱系數/塞貝克系數聯測儀
產品簡介：林賽斯 導熱系數/塞貝克系數聯測儀 LZT-Meter（LZT L33）將激光閃射法（LFA）測熱導率與靜態直流法測塞貝克系數/電阻率集于一體。僅需一個圓盤樣品，即可在一次測試中完成熱電優值（ZT值）的全參數表征。集成化設計覆蓋-100℃至1100℃溫區，可選配多種爐體，在節省空間與成本的同時，確保高精度與高可靠性，是熱電材料研發的理想解決方案。
產品型號：LZT-Meter (LZT L33)
更新時間：2026-03-16
廠商性質：生產廠家
訪問量：16632
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林賽斯 導熱系數/塞貝克系數聯測儀 LZT-Meter（LZT L33）可以通過在單個設備中組合激光導熱儀和塞貝克系數測量儀來確定熱電優值（ZT值）的商用儀器。因此，該測量設備既可以通過使用激光閃射法獨立測定導熱系數，也能夠通過 LSR 測量系統測量電阻率和塞貝克系數。
其優勢顯而易見：導熱系數/塞貝克系數聯測儀 這種集成式設計既能節省昂貴的實驗室空間，又能節省因配備雙爐體、測量電子設備和其他設備而產生的不必要費用。因此，對于那些重點不在于高樣品處理量，而在于測量質量和成本效益的研發應用來說，LZT L33 測量儀是理想的解決方案。因為對于樣品的完整熱電優值（ZT）特性表征而言，僅需一個圓盤形狀的樣品就足夠了。
該設備還可選配三種不同的加熱爐：一種新型紅外爐（用于在非常高和極低的加熱速率下進行精確的溫度控制）以及低溫爐和高溫爐。
| 類型 | LZT-Meter (LZT L33) | ||
| 溫度范圍： | 紅外加熱爐：RT - 800°C / 1100°C 低溫爐：-100°C - 500°C | 導熱 | |
| 測試方法： | 塞貝克系數：靜態直流法/斜率法 電阻：四端法 | 脈沖源： | Nd：YAG 激光器（25 J/pulse） |
| 測量原理： | 基于芯片構造 (預結構化的測量芯片，每盒 24 個) | 脈沖寬度： | 0.01 - 5 ms |
| 氣氛： | 惰性、還原性、氧化性、真空環境 氦氣：建議使用低壓氦氣 | 探測器： | InSb / MCT |
| 樣品支架： | 在兩個電極之間垂直夾緊 用于箔和薄膜的可選適配器 | 導熱系數： | 0.01 - 1000 mm2/s |
| 樣品尺寸： (圓柱體或矩形) | 2-5 mm (邊長/直徑) x 6-23 mm (高) | 插件： | LSR-4 升級 |
| 樣品尺寸： (圓盤形狀) | 10、12.7、25.4 mm | 直流哈曼法： | 在熱電腿上直接測量 ZT |
| 熱電偶測量距離： | 4、6、8 mm | 交流阻抗譜： | 在熱電模塊（TEG/Peltier 模塊）上直接測量 ZT |
| 冷卻水： | 需要 | 溫度范圍： | -100 - 400 °C RT - 400 C °C |
| 塞貝克系數 ： | 1 μV/K - 250 mV/K（靜態直流法） | 樣品架： | 用于絕熱測量條件的針式觸點 |
| 電導率： | 0.01 - 2×105 S/cm | 樣品尺寸： | 2 - 5 mm (邊長/直徑) x 6 - 23 mm (高) 模塊尺寸為 50 x 50 mm |
| 電源： | 0 至 160 mA 的低漂移電流源 | ||
| 電極材料： | 鎳（-100 至 500 °C） 鉑（-100 至 1500 °C） | ||
| 熱電偶： | 型號 K / S / C | ||
應用
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